Elektronenmikroskopie einer Oberfläche wegen Kratzern
Sekundärelektronenbild eines Kratzers:
Elektronenstrahlmikroanalyse der Oberflächen:
Elementverteilung: Differenzierung von Vor- und Deckstrich
Elementverteilungsbild: Identifikation von Partikeln
Energiedispersive Röntgenspektroskopie:
Kartonoberfläche (Deckstrich)
Partikel
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