CTP GmbH - THE SOLUTION FOR YOUR PAPER

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Service & Support

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Kundenorientierte Entwicklung

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Streichereilabor Listenpunkt

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Papierprüflabor Listenpunkt

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Elektronenmikroskopie einer Oberfläche wegen Kratzern

Sekundärelektronenbild eines Kratzers:

Sekundärelektronenbild eines Kratzers:

Elektronenstrahlmikroanalyse der Oberflächen:

Elementverteilung: Differenzierung von Vor- und Deckstrich

Elementverteilungsbild: Identifikation von Partikeln

Energiedispersive Röntgenspektroskopie:

Kartonoberfläche (Deckstrich)

Partikel